电子元器件是元件和器件的总称。常用电子元器件：电阻、电容、二极管、三极管、变压器、继电器、压敏、液晶、连接器、可控硅、轻触开关、蜂鸣器、各种传感器、接插件、电机、天线等等。

1、机械冲击：确定光电子器件是否能适用于在需经受中等严酷程序冲击的电子设备中，冲击可能是装卸、运输或现场使用过程中突然受力或剧烈振动所产生的。

2、变频振动测试：确定在规范频率范围内振动对光电子器各部件的影响。

3、热冲击测试：确定光电子器件在遭受到温度剧变时的抵抗能力和产生的作用。

4、插拔耐久性测试：确定光电子器件光纤连接器的插入和拔出，光功率、损耗和反射等参数是否满足重复性要求。

5、存储试验：确定光电子器件能否经受高温和低温下运输和储存。

6、温度循环测试：确定光电子器件承受极高温和极低温的能力，以及极高温和极低温度交替变化对光电子器件的影响。

7、恒定湿热：确定密封和非密封光电子器件能否同时承受规定的温度和湿度。

8、高温寿命测试：确定光电子器件高温加速老化失效机理和工作寿命。

加速老化试验：在光电子器件上施加高温、高湿和一定的驱动电流进行的加速老化，依据试验的结果来判定光电子器件具备功能和丧失功能，以及接收和拒收，并可对光电子器件工作条件进行调整和对可靠性进行计算。

1、高温加速老化：加速老化过程中最基本环境应力式高温。在实验过程中，应定斯监测选定的参数，直到退化超过寿命终止为止。

2、恒温试验测试：恒温试验与高温运行试验类似，应规定恒温试验样品数量和允许失效数。

3、变温试验：变化湿度的高温加速老化试验是定期按顺序逐步升高温度

加速老化试验：在光电子器件上施加高温、高湿和一定的驱动电流进行的加速老化，依据试验的结果来判定光电子器件具备功能和丧失功能，以及接收和拒收，并可对光电子器件工作条件进行调整和对可靠性进行计算。

1、高温加速老化：加速老化过程中最基本环境应力式高温。在实验过程中，应定斯监测选定的参数，直到退化超过寿命终止为止。

2、恒温试验测试：恒温试验与高温运行试验类似，应规定恒温试验样品数量和允许失效数。

3、变温试验：变化湿度的高温加速老化试验是定期按顺序逐步升高温度

一、 设备用途:

    微电脑插拔力试验机适用于各类连接器（件）、插头插座等产品作插入、拔出之疲劳寿命测试；

电动插拔力试验机采用台湾AC调速电机为动力源，质量可靠，耐久使用；配以专用对心夹持夹具对连接件（器）作插拔测试，由于采用导程铜套降低了机械摩擦及噪声；

电动插拔力试验机可选配微型印表机打印插入力与拔出力，且打印间隔可以设定，自动计算最大力、最小力、平均力。

二、设备参数: